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本发明提出了一种半导体器件测试系统脉冲大电流幅度校准装置，其组成部分包括：NIPXI-1042主控机箱，NI?PXI-4071高速数据采集单元、TDS320数字示波器、半导体器件测试系统专用测试适配器。通过相关设备的设置，并对采集回来的脉冲...
该专利属于刘冲;于利红所有，仅供学习研究参考，未经过刘冲;于利红授权不得商用。

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