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本实用新型公开一种双面带顶针的PCBA测试装置,其包括:下测试架;设置在下测试架正上方的上测试架;在上测试架的下侧面上设置若干个第一顶针以及用于对PCBA的测试位置进行限位的第一定位块;在下测试架的上侧面上设置若干个第二顶针以及用于对PCB...该专利属于深圳市盈信电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市盈信电子科技有限公司授权不得商用。
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本实用新型公开一种双面带顶针的PCBA测试装置,其包括:下测试架;设置在下测试架正上方的上测试架;在上测试架的下侧面上设置若干个第一顶针以及用于对PCBA的测试位置进行限位的第一定位块;在下测试架的上侧面上设置若干个第二顶针以及用于对PCB...