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本发明公开了一种绝缘子污秽现场采样及污秽程度测量方法，该方法采用采样布在不用摘下绝缘子的情况下直接擦拭待测绝缘子表面的污秽，完成待测绝缘子表面污秽的收集，并按照GB/T16434或Q/GDW152-2006测量采样布上污秽的盐密和灰密值，即...该专利属于武汉大学;广东电网公司深圳供电局试验研究所所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学;广东电网公司深圳供电局试验研究所授权不得商用。