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本发明揭示了一种使用氦氖激光器及柱透镜搭建的能够测试双折射晶体加工而成的光学元件面形偏差的测试系统，具有成本低、测试方法简单、测试速度较快等优点，适用于大型企业对批量双折射晶体加工而成的光学元件面形偏差的测试。该发明的使用能够克服现有传统光...
该专利属于科纳技术(苏州)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过科纳技术(苏州)有限公司授权不得商用。

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