温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型提供了一种用于芯片老化测试的装置，包括电源、芯片插板和显示装置，进一步包括一测试管理模块，所述电源通过测试管理模块电学连接至芯片插板；所述显示装置电学连接至测试管理模块。本实用新型的优点在于，可以屏蔽掉电源开启时刻的高电压脉冲对插...
该专利属于中达电子零组件(吴江)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中达电子零组件(吴江)有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。