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本发明涉及一种基于二维微波成像的低散射共形天线RCS测试方法，其特征在于步骤如下：对装机状态下的金属蒙皮及共形天线进行RCS测试，得到二维微波像；对新的二维微波像进行二维傅立叶变换，得到目标谱域的数据；对一个RCS已知的金属球进行RCS测试...
该专利属于西北工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过西北工业大学授权不得商用。

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