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一种半导体晶片的裂片方法技术
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文档序号:6847101
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一种半导体晶片的裂片方法。涉及半导体晶片裂片方法。在裂片后能轻松、快捷地将不良品剔除。晶片正面具有相互交叉的分裂槽,使晶片上形成若干相互连接的芯片,其中不良芯片通过检测后,标记上色点,按以下步骤将晶片分裂:1)配制粘连液;2)在膜一上均匀涂...
该专利属于扬州杰利半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过扬州杰利半导体有限公司授权不得商用。
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