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本发明公开一种测试有高频磁导率谱的软磁薄膜材料的饱和磁化强度的方法。本发明的方法是：对待测软磁薄膜材料施加最大正磁场至饱和磁场，再逐渐减小外磁场至零磁场，然后再逐渐减小外磁场至饱和负磁场，或者先对待测软磁薄膜材料施加最小负磁场至饱和磁场，再...
该专利属于兰州大学所有，仅供学习研究参考，未经过兰州大学授权不得商用。

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