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一种八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置，该装置由准直光源、圆起偏器、衍射光栅、聚焦透镜、衰减器、检偏器阵列、光电探测器阵列和信号处理系统组成，本实用新型能实时地测量八分之一波片的相位延迟量和快轴方位角，而且测量结果不受光源光强波动...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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