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一种对射光束同轴误差的测量方法，该方法通过一个分束棱镜、二维平移调整器、角反射器、光强探测器和观测屏，可以测量两束对射重合光的重合误差，本发明方法具有设备简单、容易观测，测量方便，对射光束的同轴调整快捷方便、准确可靠的特点。...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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