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本发明公开一种像素阵列的检测方法及检测装置。所述检测方法先以不同的测试电压对一包含瑕疵像素单元与正常像素单元的样本像素区域进行充电，再根据不同测试电压下各像素单元的亮度值建立一亮度阈值对照表；在检测一待测像素区域时，对待测像素区域充电，根据...
该专利属于深圳市华星光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华星光电技术有限公司授权不得商用。

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