一种像素阵列的检测方法及检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种像素阵列的检测方法及检测装置。所述检测方法先以不同的测试电压对一包含瑕疵像素单元与正常像素单元的样本像素区域进行充电，再根据不同测试电压下各像素单元的亮度值建立一亮度阈值对照表；在检测一待测像素区域时，对待测像素区域充电，根据其电压值及亮度值自所述亮度阈值对照表中选用适合的亮度阈值，再根据此亮度阈值检测所述待测像素区域的像素单元是否具有缺陷。因此，本发明专利技术可减少缺陷的误判，进而增加检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种像素阵列的检测方法及检测装置
本专利技术是有关于一种液晶面板的检测方法及检测装置，特别是有关于一种液晶面板的像素阵列的检测方法及检测装置。
技术介绍
在液晶面板制造过程中，各阶段都需要经过检测，以确保最终产品的良率。其中在制作设有像素阵列的基板时，基板必须通过阵列检查设备检测基板上的每个像素电极 (pixel pattern)是否有缺陷(defect)。现有技术中，在检测像素电极缺陷时，阵列检查设备的探针(probe)会先对像素阵列的像素电极充电，再对检测每一像素电极的亮度值，接着再计算每一特定区域内的像素电极的亮度平均值。检查设备再计算每一像素电极亮度值与亮度平均值之间的比值，并将所述比值与所述阵列检查设备原先设定的亮度阈值进行比较。当一像素电极的亮度比值小于所述亮度阈值时，检查设备即判断此像素电极有缺陷。然而，所述探针输入的电压会因为导线的阻抗而逐渐衰退(decay)，即位于导线输出端的像素电极所接收的电压将会小于探针输入端的电压。现有技术中，所述阵列检查设备仅设定一种亮度阈值做为缺陷判定的基准，但相同的亮度阈值并不完全适用在不同的电压下进行像素缺陷的检测，往往在检测过程中，有误判或是缺陷无法被检查出的情况发生。故，有必要提供一种像素阵列的检测方法，以解决现有技术所存在的问题。
技术实现思路
有鉴于现有技术的缺点，本专利技术的主要目的在于提供一种像素阵列的检测方法， 其通过收集同一像素缺陷在不同电压下的亮度值来建置适当亮度阈值的对照表，可减少缺陷的误判，进而增加检测的准确性。为达成本专利技术的前述目的，本专利技术提供一种像素阵列的检测方法，包含下列步骤S10:以不同测试电压对包含瑕疵像素单元与正常像素单元的样本像素区域进行充电；根据各像素单元的亮度值建立并存储一亮度阈值的对照表；以及S20:对待测想去区域充电，并根据当前待测像素区域的电压值及亮度值自对照表中选定对应的亮度阈值以检测所述待测像素区域。在本专利技术的一实施例中，所述步骤SlO包括步骤Sll 选取不同的电压值的测试电压来对包含有瑕疵像素单元与正常像素单元的样本像素区域进行充电；步骤S12 检测不同测试电压下所述样本像素区域内的每个像素单元的亮度，以得到瑕疵像素单元以及正常像素单元的亮度值；步骤S13 计算不同测试电压下所述样本像素区域内的所有像素单元的亮度平均值；以及步骤S14 计算所述样本像素区域内的瑕疵像素的亮度值与前述亮度平均值的比值，再根据得到的比值建立不同测试电压下适当的亮度阈值，进而建立一亮度阈值的对照表并储存。在本专利技术的一实施例中，所述步骤S20包括步骤S21 对待测的像素阵列施加电压；步骤S22 检测各像素单元的亮度值；步骤S23 计算各个像素区域内的像素单元的亮度的平均值；步骤SM 计算各个像素单元的亮度与亮度平均值之间的比值；步骤S25 检测各个待测像素区域对应的电压值；步骤S26 各个待测像素区域的电压值在存储模块存储的对照表中查找该电压值对应的亮度阈值；以及步骤S27 比较步骤SM得到的比值与步骤S^得到的亮度阈值之间的大小。在本专利技术的一实施例中，所述亮度阈值大于瑕疵像素单元的亮度值与亮度平均值的比值。在本专利技术的一实施例中，若比值小于亮度阈值，则该比值对应的像素单元为瑕疵像素单元。在本专利技术的一实施例中，亮度阈值小于瑕疵像素单元的亮度值与亮度平均值的比值。在本专利技术的一实施例中，若比值大于亮度阈值，则该比值对应的像素单元为瑕疵像素单元。本专利技术另提供一種像素阵列的检测装置，包含一充电模块，用于向一已知存在瑕疵像素单元与正常像素单元的样本像素区域施加一测试电压并存储该测试电压值，该充电模块也用于向一像素阵列的各待测像素区域施加一电压；一第一检测模块，用于检测以测试电压充电后的所述样本像素区域的各像素单元的亮度值，该第一检测模块也用于检测所述像素阵列的各待测像素区域的像素单元的亮度值；一第一计算模块，与所述第一检测模块连接，用于接收第一检测模块检测得到的各像素单元的亮度值，并计算所述样本像素区域内或各待测像素区域的像素单元的亮度值的平均值；一第二计算模块，与所述充电模块、第一检测模块及第一计算模块均连接，用于接收第一检测模块检测得到的瑕疵像素单元的亮度值、第一计算模块计算得到的所述样本像素区域内的像素单元的亮度值的平均值及充电模块的测试电压值，并计算瑕疵像素单元的亮度值与第一计算模块计算得到的该样本像素区域的像素单元的亮度值的平均值之间的比值，并根据该比值与该样本像素区域对应的测试电压值建立不同测试电压下适当的亮度阈值，进而建立一亮度阈值对照表；一存储模块，与所述第二计算模块连接，用于存储第二计算模块建立的亮度阈值对照表；一第二检测模块，与所述像素阵列连接，该第二检测模块用于检测所述充电模块施加于所述各待测像素区域的电压值；一第三计算模块，与所述第一检测模块及所述第一计算模块连接，该第三计算模块用于接收第一检测模块检测得到的各待测像素区域内的像素单元的亮度值以及第一计算模块计算得到的各待测像素区域内的像素单元的亮度值的平均值，并计算各像素单元的亮度值与平均值之间的比值；一查找模块，与所述第二检测模块及存储模块连接，该查找模块用于接收该第二检测模块检测得到的各待测像素区域的电压值，并根据各待测像素区域的电压值在该存储模块存储的亮度阈值对照表中查找该电压下对应的亮度阈值；及一比较模块，与所述第三计算模块及所述查找模块连接，所述比较模块用于接收第三计算模块计算得到的各待测像素区域内的像素单元与亮度平均值的比值，及接收查找模块查找的各电压下对应的亮度阈值，并比较各待测像素区域内的像素单元与亮度平均值的比值与对应的亮度阈值之间的大小，进而判断各像素单元是否为瑕疵像素单元。在本专利技术的一实施例中，所述第二计算模块计算的亮度阈值大于瑕疵像素的亮度值与亮度平均值的比值；所述比较模块用于比较比值与该亮度阈值，若比值小于亮度阈值，则该比值对应的像素单元为瑕疵像素单元。在本专利技术的一实施例中，所述第二计算模块计算的亮度阈值小于瑕疵像素的亮度值与亮度平均值的比值；所述比较模块用于比较比值与该亮度阈值，若比值R大于亮度阈值，则该比值对应的像素单元为瑕疵像素单元。本专利技术主要是根据不同测试电压下一样本像素区域的正常像素单元与瑕疵像素单元的亮度建立亮度阈值的对照表，藉此提供在不同电压下适当的像素缺陷判定的基准， 可减少误判缺陷，而增加检测的准确度。附图说明图1是一接受本专利技术像素阵列的检测装置检测的基板的示意图。图2是本专利技术像素阵列的检测装置的结构示意图。图3是本专利技术像素阵列的检测方法的第一实施例的流程图。图4是图3中步骤SlO的流程图。图5是图3中步骤S20的流程图。图6是本专利技术像素阵列的检测方法的第一实施例的对照表。图7是输入电压15V下的像素区域的亮度值列表。图8是输入电压12V下的像素区域的亮度值列表。图9是输入电压IlV下的像素区域的亮度值列表。图10是本专利技术像素阵列的检测方法的第二实施例的建立并存储亮度阈值对照表的流程图。图11是本专利技术像素阵列的检测方法的第二实施例的检测待测像素区域的流程图。具体实施方式为让本专利技术上述目的、特征及优点更明显易懂，下文特举本专利技术较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。再者，本专利技术所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种像素阵列的检测方法，其特征在于：所述像素阵列的检测方法包含下列步骤：Ｓ１０：以不同测试电压对包含瑕疵像素单元与正常像素单元的样本像素区域进行充电；根据各像素单元的亮度值建立并存储一亮度阈值的对照表；以及Ｓ２０：对待测像素区域充电，并根据待测像素区域的电压值及亮度值自对照表中选定对应的亮度阈值以检测所述待测像素区域。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑文达，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94