一种像素阵列的检测方法及检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种像素阵列的检测方法及检测装置。所述检测方法先以不同的测试电压对一包含瑕疵像素单元与正常像素单元的样本像素区域进行充电，再根据不同测试电压下各像素单元的亮度值建立一亮度阈值对照表；在检测一待测像素区域时，对待测像素区域充电，根据其电压值及亮度值自所述亮度阈值对照表中选用适合的亮度阈值，再根据此亮度阈值检测所述待测像素区域的像素单元是否具有缺陷。因此，本发明专利技术可减少缺陷的误判，进而增加检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种像素阵列的检测方法及检测装置
本专利技术是有关于一种液晶面板的检测方法及检测装置，特别是有关于一种液晶面板的像素阵列的检测方法及检测装置。
技术介绍
在液晶面板制造过程中，各阶段都需要经过检测，以确保最终产品的良率。其中在制作设有像素阵列的基板时，基板必须通过阵列检查设备检测基板上的每个像素电极 (pixel pattern)是否有缺陷(defect)。现有技术中，在检测像素电极缺陷时，阵列检查设备的探针(probe)会先对像素阵列的像素电极充电，再对检测每一像素电极的亮度值，接着再计算每一特定区域内的像素电极的亮度平均值。检查设备再计算每一像素电极亮度值与亮度平均值之间的比值，并将所述比值与所述阵列检查设备原先设定的亮度阈值进行比较。当一像素电极的亮度比值小于所述亮度阈值时，检查设备即判断此像素电极有缺陷。然而，所述探针输入的电压会因为导线的阻抗而逐渐衰退(decay)，即位于导线输出端的像素电极所接收的电压将会小于探针输入端的电压。现有技术中，所述阵列检查设备仅设定一种亮度阈值做为缺陷判定的基准，但相同的亮度阈值并不完全适用在不同的电压下进行像素缺陷的检测，往往在检测过程中，本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种像素阵列的检测方法，其特征在于：所述像素阵列的检测方法包含下列步骤：Ｓ１０：以不同测试电压对包含瑕疵像素单元与正常像素单元的样本像素区域进行充电；根据各像素单元的亮度值建立并存储一亮度阈值的对照表；以及Ｓ２０：对待测像素区域充电，并根据待测像素区域的电压值及亮度值自对照表中选定对应的亮度阈值以检测所述待测像素区域。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑文达，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94