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一种扫描链测试电路制造技术
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下载一种扫描链测试电路的技术资料
文档序号:6709213
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本实用新型提供一种扫描链测试电路,其包括用于输入初始时钟的时钟输入端、锁相环、时钟生成单元、门控单元、第一选择器、功能触发器、门控逻辑单元、第二选择器和第三选择器,其中所述第二选择器利用测试使能选择初始时钟或所述锁相环输出的时钟以作为所述时...
该专利属于无锡中星微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡中星微电子有限公司授权不得商用。
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