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本发明提供了一种测试接口电路，与不同类型的核心电路一起操作。根据各个实施例，所述测试接口电路包括：测试输入寄存器(TIR)，被配置为选择操作模式；以及多个测试点寄存器(TPR)。每个TPR被配置为，响应于所接收的测试输入信号和TIR选择的操...
该专利属于NXP股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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