测试电路和方法技术

本发明专利技术提供了一种测试接口电路，与不同类型的核心电路一起操作。根据各个实施例，所述测试接口电路包括：测试输入寄存器(TIR)，被配置为选择操作模式；以及多个测试点寄存器(TPR)。每个TPR被配置为，响应于所接收的测试输入信号和TIR选择的操作模式，控制从输入端口传送至混合信号核心电路的信号。在静态模式中，每个TPR向混合信号核心电路的数字输入和输出提供串行访问。在旁路模式中，每个TPR响应于该TPR在至少两个混合信号核心的集成期间被链接至其他TPR，旁路掉TPR限幅器以保持测试时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术总体涉及测试电路和相关方法，更具体地，涉及一种测试电路和用于测试的方法，能够与不同的电路设计一起使用。
技术介绍
各种测试电路和相关功能已经用于设计和测试集成电路，如可重新使用的核心 (例如IP、模块)，以创建整个片上系统(SoC)设计。基于核心的设计和混合信号核心的测试已经变得越来越重要。IEEE 1149. 4标准提供了一种模拟设施来在板测试时访问模拟IC引脚，但是也可以用于访问片上节点，这适用于混合信号测试领域(见IEEE Std. 1149. 4-1999，Test Technology Technical Committee of the IEEE Computer Society,"IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus，，，其全部内容通过引用并入此处)。一般地，用于测试的特定通用设计(DfT)方案受限于其对于基于核心的测试、模块隔离和模块互连的能力。对具有混合信号模块的SoC设计进行测试的尝试通常需要在模拟信号路径中进行DfT插入，这可能导致问题(例如RF模块的问题)。这些和其他问题继续成为电路测试和分析的挑战。专本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种测试接口电路，与不同类型的核心电路一起操作，所述测试接口电路包括：输入端口，被配置为接收测试输入信号；测试输入寄存器ＴＩＲ，被配置为选择操作模式；以及多个测试点寄存器ＴＰＲ，每个ＴＰＲ被配置为，响应于所接收的测试输入信号和ＴＩＲ选择的操作模式，通过以下操作来控制从输入端口传送至混合信号核心电路的信号：在静态模式中，向混合信号核心电路的数字输入和输出提供串行访问，以及在旁路模式中，响应于所述ＴＰＲ在至少两个混合信号核心的集成期间被链接至其他ＴＰＲ，旁路掉ＴＰＲ限幅器以保持测试时间。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：弗拉迪米尔·亚历山大·齐夫科维齐，弗兰克范德·海登，海尔特·佐伊伦，史蒂芬·奥斯代克，马里奥·科尼南伯格，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL