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本文公开了一种用于ZnO压敏电阻性能评价的无损检测方法，ZnO压敏电阻的性能通常是通过对其小电流特性、非线性系数、电位梯度的测试来评价。本发明是通过使用介电谱对ZnO压敏电阻的介电性能进行测量的方法，从介电损耗以及其微观结构缺陷活化能的观点...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

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