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一种集成电路测试探针卡的结构，该探针卡内部的电路板的至少一侧表面设有凸部，该凸部表面设有数内接点，而该电路板的另一侧表面则设有数外接点，且于电路板内设有导电线路衔接于各内、外接点之间，使各外接点可经由导线与外部的测试电路形成电连接；该电路板...
该专利属于汉民测试系统科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过汉民测试系统科技股份有限公司授权不得商用。

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