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本实用新型涉及对晶片角度测试的技术领域，具体涉及一种在制造晶片过程中对晶片角度检测、测量的晶片角度测试定位装置，包括上端面设有晶片托台的工作台基座，工作台基座的一端设有测试台，以及位于工作台基座一侧的Ｘ光发生器以及另一侧用于接收Ｘ光的计数管...
该专利属于常州松晶电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过常州松晶电子有限公司授权不得商用。

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