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一种对FPGA内部嵌入式多位存储器故障的测试方法，它有六大步骤：一、基于March?C-算法，首先增加测试图样数2×(1+log2n)；二、将2×(1+log2n)种测试图样代入March?C-算法的6个March单元，得到位宽为n?bit...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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