一种对FPGA内部嵌入式多位存储器故障的测试方法技术

一种对FPGA内部嵌入式多位存储器故障的测试方法，它有六大步骤：一、基于March?C-算法，首先增加测试图样数2×(1+log2n)；二、将2×(1+log2n)种测试图样代入March?C-算法的6个March单元，得到位宽为n?bit的以存储单元为基准的存储器March?C-测试算法；三、利用Verilog硬件描述语言在FPGA内部构建BIST结构；四、在BIST平台下，由控制单元控制不同状态下输入被测存储器的测试图形、状态控制器所在状态以及内部响应分析器的启动与停止，由测试图形生成器生成针对存储器不同故障模型所需的March元素测试图形序列；五、根据以上生成的测试图形对存储器进行测试；六、观察测试波形，确定存储器故障类型。本发明专利技术方法简单，实现容易，在FPGA内部嵌入式多位存储器测试领域有很广阔的应用前景。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种存储器测试方法，尤其涉及一种对FPGA内部嵌入式多位存储器故障的测试方法，属于FPGA即现场可编程门阵列测试

技术介绍
现场可编程门阵列(以下简称FPGA)是八十年代中期出现的新型可编程逻辑器件，其主要特点就是完全由用户通过软件进行配置和编程，从而完成某种特定的功能，且可以反复擦写。在修改和升级时，不需额外地改变PCB电路板，只是在计算机上修改和更新程序，使硬件设计工作成为软件开发工作，缩短了系统设计的周期，提高了实现的灵活性并降低了研发成本，因此获得了广大硬件工程师的青睐。随着FPGA越来越广泛的应用和越来越低廉的价格，用户对其可靠性提出了越来越高的要求。同时，随着我国航空、航天及武器装备事业的快速发展，越来越多的武器装备、 机载电子系统、弹载和宇航电子系统采用FPGA器件来代替传统的ASIC或者中小规模的通用器件来实现设计，这就对FPGA器件的质量和可靠性提出了更高的要求。所以，对FPGA器件的各种故障检测和诊断方法进行全面深入的研究，尽可能减小FPGA器件的故障率，具有重要的现实意义。而嵌入式存储器作为当前主流FPGA重要的功能块，如何对其进行有效本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种对ＦＰＧＡ内部嵌入式多位存储器故障的测试方法，其特征在于：该方法具体步骤如下：步骤一：基于Ｍａｒｃｈ　Ｃ－算法，首先增加测试图样；对于ＦＰＧＡ内部嵌入式ｎ位存储器来说，其测试图样数为２×（１＋ｌｏｇ２ｎ），该测试图样如下所示：?Ｇｒｏｕｐ０?　　００００００００…００００００００?　　Ｇｒｏｕｐ１?　　１１１１１１１１…１１１１１１１１?　　Ｇｒｏｕｐ２?　　０１０１０１０１…０１０１０１０１?　　Ｇｒｏｕｐ３?　　１０１０１０１０…１０１０１０１０?　　Ｇｒｏｕｐ４?　　００１１００１１…００１１００１１?　　Ｇｒｏｕｐ５?　　１１００１１００…１１００１１００?　　Ｇｒｏｕｐ６?　...

【技术特征摘要】
1. 一种对FPGA内部嵌入式多位存储器故障的测试方法，其特征在于该方法具体步骤如下步骤一基于March C-算法，首先增加测试图样；对于FPGA内部嵌入式η位存储器来说，其测试图样数为2Χ (l+l0g2n)，该测试图样如下所示2.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：高成，刘孝章，黄姣英，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11