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一种超高频射频识别入口盲点测试系统与概率预测方法，其超高频射频识别入口盲点测试系统，包括上变频板卡、下变频板卡、可重配置输入输出端口的中频现场可编程门阵列（FPGARIO）板卡、可编程逻辑控制器（PLC）、电机、微机、传输带、测试天线、发送...
该专利属于湖南大学所有，仅供学习研究参考，未经过湖南大学授权不得商用。

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