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本发明公开一种用于图像特征查找的遍历方法，其利用硬件特征框对图像进行遍历，所述硬件特征框包括一个特征提取框和位于特征提取框上、下、右方的三个缓冲区。所述遍历包括一次以上重复由多次下移操作、一次右移操作、多次上移操作和一次的右移操作组成的流程...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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