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本发明涉及一种LCM模组半成品IC弯折能力测试方法及IC弯折治具，其测试方法如下：依次将该些待测试样品的液晶面板分别固定于固定底座上，往复摆动PWB上端部若干次，后检测LCM半成品的IC引脚是否完好及有无电气类不良，并记录数据，通过对LCM...
该专利属于福建华映显示科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过福建华映显示科技有限公司授权不得商用。

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