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用于制造半导体器件的方法技术
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文档序号:6065312
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本发明的目的是建立用于制造使用氧化物半导体的半导体器件的加工技术。在衬底上方形成栅电极,在栅电极上方形成栅绝缘层,在栅绝缘层上方形成氧化物半导体层,通过湿法蚀刻加工氧化物半导体层以形成岛状氧化物半导体层,形成导电层以覆盖岛状氧化物半导体层,...
该专利属于株式会社半导体能源研究所所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社半导体能源研究所授权不得商用。
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