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文档序号:6060476

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在常规UBM例如Cu、Ni或NiP中,存在的这样问题:在长时间将电子部件保持在高温条件下时导致UBM的阻挡特性被破坏,并且由于在结合界面形成脆性的合金层,导致结合强度降低。焊料连接部分在高温下储存之后长期连接可靠性降低的问题得到了解决。电子...
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