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提供了一种用于晶片测试系统的探针卡，它具有许多单板特征，能够进行测试系统控制器通道的扇出，以便测试晶片上的多个DUT，同时又限制了扇出对测试结果的不利影响。探针卡的单板特征包括下列一个或多个：(a)DUT信号隔离，这是通过将电阻器与每一个D...
该专利属于佛姆法克特股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过佛姆法克特股份有限公司授权不得商用。

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