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本发明公开了一种LDMOS、集成该LDMOS的半导体器件及其制造方法。一种半导体器件,包括位于p型衬底10中的LDMOS?1、CMOS?2、NPN?3和埋沟电阻4。其中LDMOS?1包括n型漂移区20、p+阱接触区40、p型体区70、n+源...该专利属于深圳市联德合微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市联德合微电子有限公司授权不得商用。
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