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本发明之目的在于提供能够缩短测试托盘在停滞情况下的时间损失的电子元件测试装置及电子元件的测试方法，其中，在ＩＣ器件搭载于测试托盘ＴＳＴ的状态下将ＩＣ器件与测试头（５）的插座５０电接触而进行ＩＣ器件测试的电子元件测试装置（１）设有将测试托盘Ｔ...
该专利属于株式会社爱德万测试所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社爱德万测试授权不得商用。

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