温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型涉及一种用于集成电路测试的装置，包括压紧部件（１）、探针定位板（２）和探针，该探针定位板（２）上有与被测集成电路（４）各导电点之间脚距相同的通孔，各探针穿越探针定位板（２）上的通孔；探针为螺圈弹簧（３），各弹簧（３）的上端与被测集...
该专利属于段超毅所有，仅供学习研究参考，未经过段超毅授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。