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本发明公开一种测试装置，包括：不良计数存储器，针对每个存储器库以及每个区块，存储不良单元的数量；不良计数寄存器，针对每个存储器库，存储在测试对象区块内检测出的不良单元的数量；存储器读出部，自各存储器库中依次逐个地读出测试对象区块内的一部分页...
该专利属于爱德万测试株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过爱德万测试株式会社授权不得商用。

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