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本发明提供一种在检测体积中检测发光团存在的方法，其包括在所述检测体积中提供激发辐射。发光团提供于可由所述激发辐射激发的所述检测体积中。检测该发光辐射以确定所述发光团在所述检测体积中的存在。在本发明的一个方面，所述发光团被选择成发出在所述介质...
该专利属于皇家飞利浦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过皇家飞利浦电子股份有限公司授权不得商用。

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