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本发明涉及了一种实时探测单电子自旋态的方法。当量子点能级由于外磁场而发生Ｚｅｅｍａｎ分裂或与电极间的隧穿速率与自旋有关时，单个电子所携带的自旋信息就与其通过该量子点时在量子点上的留滞时间联系起来。通过设计合适的单电子探测器件并调节该器件的噪...
该专利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海微系统与信息技术研究所授权不得商用。

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