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蚀刻到含氧化硅材料中的方法、形成容器电容器的方法和形成动态随机存取存储器(DRAM)阵列的方法技术
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文档序号:5488802
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本发明提供在具有至少75体积%的氦的蚀刻环境下蚀刻到含氧化硅材料中的方法。所述蚀刻环境还可包括一氧化碳、O↓[2]以及一种或一种以上碳氟化合物。可利用形成于所述含氧化硅材料中的开口来制造容器电容器,且可将这些电容器并入动态随机存取存储器(D...
该专利属于美光科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过美光科技公司授权不得商用。
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