温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明揭示用于设计能容忍工艺变化的存储器的方法及系统。将存储器电路划分为若干功能块。针对所述功能块中的每一者计算统计分布。随后，将每一块的所述分布进行组合以检验电路的可信性。如果所述电路满足预定的合格率，那么所述可信性通过检验。...
该专利属于高通股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过高通股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。