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浅沟渠隔离的二氧化硅高品质介电膜的形成:于高纵深比填沟工艺Ⅱ( HARPⅡ)使用不同的硅氧烷前体—远端等离子辅助沉积工艺制造技术
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文档序号:5458544
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本发明描述一种在形成于基材上之间隙中沉积一介电层的方法。该方法包括导入一有机硅前体及一氧前体至一沉积反应室。该有机硅前体的C∶Si原子比小于8,且该氧前体包括在该沉积反应室外产生的氧原子。使该些前体进行反应以在该间隙中形成介电层。亦描述以介...
该专利属于应用材料股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过应用材料股份有限公司授权不得商用。
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