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本发明提供了产生诸如分散在透明介质中的一个或多个颗粒等样品的图像的同轴全息术。用来自光散射理论的结果来分析这些图像提供具有纳米尺寸分辨率的颗粒尺寸、在千分之一以内的其折射率、及具有纳米分辨率的其三维空间位置。此程序快速并直接地表征样品及其介...
该专利属于纽约大学所有，仅供学习研究参考，未经过纽约大学授权不得商用。

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