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一种方法，包括：将初始数据样式输入到集成电路器件的扫描链电路中；在利用时钟信号驱动扫描链电路的同时向集成电路器件施加粒子束以生成输出数据样式；以及基于输出数据样式和初始数据样式之间的比较来生成单粒子翻转差错率测试结果。...
该专利属于思科技术公司所有，仅供学习研究参考，未经过思科技术公司授权不得商用。

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