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本实用新型涉及一种电子元器件的检测机构，尤其是涉及一种确认探针与晶片接触状态的机构。其主要是解决现有技术所存在的晶片很小、探针很细，无法判断探针与晶片电极是否接触良好等的技术问题。本实用新型包括金属片（１），其特征在于所述的金属片（１）与电...
该专利属于浙江博杰电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江博杰电子有限公司授权不得商用。

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