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一种基于ARM和CPLD的集成芯片测试仪制造技术
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下载一种基于ARM和CPLD的集成芯片测试仪的技术资料
文档序号:5169157
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一种基于ARM和CPLD的集成芯片测试仪,涉及集成电路芯片测设技术领域。在机壳内安装有PC工控机、集成电路测试板、集成电路适配器、CPLD模块,可调电压源;集成电路测试板包括CPU控制单元、USB接口单元、逻辑数据分析处理单元;集成电路适配...
该专利属于成都理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过成都理工大学授权不得商用。
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