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本发明所提供的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，是将待检测的片状高分子成型物定位于一受检测的预定空间中，以使其一侧片端位于一检测的基准点上，再经由感应装置感测其另一片端的位置，据以获得该物的尺寸，并进一步视该物尺寸误差是属过大或过小...
该专利属于陈法胜所有，仅供学习研究参考，未经过陈法胜授权不得商用。

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