片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法与用以实施该方法的检测与后处理机技术

本发明专利技术所提供的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，是将待检测的片状高分子成型物定位于一受检测的预定空间中，以使其一侧片端位于一检测的基准点上，再经由感应装置感测其另一片端的位置，据以获得该物的尺寸，并进一步视该物尺寸误差是属过大或过小，而分别进行其后处理的程序，将其尺寸再经扩大或缩小而使之处于良品的容许误差范围内；另外，本发明专利技术并同时提供用以实施上述方法的检测与后处理机。本发明专利技术的有益效果为：能快速高效的对片状高分子成型物的尺寸进行自动化检测，并根据该尺寸进行自动化处理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及高分子成型加工技术，特别是一种片状高分子成型物尺寸检测及其后 处理的方法与用以实施该方法的检测与后处理机。
技术介绍
就一般高分子成型加工技术而言，应用模具模制所需形状及尺寸物品的技术手 段，固然属于公知熟用的基础技术，但其具体的
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则因应着不同的制程条件而有诸 多的形态，举例而言，在成型片状物时，有采用两段式制程的先例，即先将高分子物成型为 片状料，再以所需最终成型的尺寸为标准，裁切相等的片状料为初胚，再经热压模塑所需的 外观形状与花纹，此等制程固可获得尺寸精确的最终成型产品，惟其采用两段式的制程方 法，除了延宕制程的循环时间外，在第一段的裁切步骤上则会衍生过多的废弃物料，对于资 源的有效利用并非理想。是以，在产业的实施上，即揭露有以单一制程完成如该等片状物的方法，其主要的
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是将定量的原料以成型模具直接模制成最终的片状成型物，而略去先成形为片状 体后再裁切为定尺寸的步骤；其中，原料在被填入成型模具时的形态，则有仅为单纯混合 而呈分散状态的原料组成，亦有先将原料组成经混合后先行模制为个别独立的定量初胚模 块；此等单一制程，其所附随而生的是最终产品的尺寸精度问题，此问题产生的原因，除有 存在于原料于模具内部的模制程序的瑕疵之外，亦可能存在于成型物离开成型模具后在受 控制温度环境下的后稳型程序中，以及其采模外发泡所致。但是，在已公开的
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中，尚欠缺得以快速进行片状成型物尺寸检测的自动 化
技术实现思路
。
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本专利技术的主要目的是提供一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其 可快速自动化地进行片状高分子成型物的尺寸检测，以遂行自动化的品管程序。本专利技术的另一目的则是提供一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法， 其可对于尺寸误差超过设定值的成型物，以物理性方法调整尺寸至可容许的误差值内。为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，包括下述步骤a.使经过后稳型程序的待检测片状高分子成型物位于一水平面上；b.将该待检测的片状高分子成型物于该水平面上被水平地位移至一检测位置 上；C.以该待检测的片状高分子成型物的一侧为基侧，并将该基侧定位于一基准点 上；d.以该待检测片状高分子成型物相背于该基侧的另一侧为受测侧，并以一感应装置感测该待检测高分子成型物受测侧所在位置，以检测该待检测片状高分子成型物介于该 基测与该受测侧间的距离，以获得其对应的尺寸数值；e.当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值内时即判定为良品； 而当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值范围以外时即判定为次品；f.当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，延展该 次品，以增加其基侧至受测侧间的距离；而当所述次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大值时，使该次 品位于一预定温度的环境下，使该次品收缩以缩小而减少其基侧至受测侧间的距离。在该步骤d中，使该感应装置以位移方式感测该受测侧的位置；该感应装置于位 移乃是位于一原点位置上，该原点位置并与该基准点相隔固定距离，而以该感应装置自该 原点至该受测侧的位移距离与该固定距离之差或和，为该基侧至该受测侧间的距离，据以 获得该待检测片状高分子成型物的尺寸。所述固定距离大于待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离，而于该d 步骤中，即以该位移距离与该固定距离的差值作为该待检测片状高分子成型物的基侧与受 测侧间的距离。所述固定距离小于待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离，而于该d 步骤中，即以该位移距离与该固定距离的和值为该待检测片状高分子成型物的基侧与受测 侧间的距离。所述f步骤中，当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小 值时，以辊轮滚压该次品，从而通过延展而增加其基侧至受测侧间的距离。所述f步骤中，当所述次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大 值时，使该次品以定速于一预定温度环境下位移，通过调整该定速速度或预定的温度值高 低，以控制该次品受热能作用的程度。所述感应装置为光纤感应。所述待检测的片状高分子成型物概呈矩形，该基侧与该受测侧分别位于矩形的长 轴两端，并于该c步骤进行的同时，使该待检测的片状高分子成型物矩形的短轴两端亦受 到定位。一种用以实施权利要求1所述方法的检测与后处理机，它包括一集料机构，具有至少一集片盒，用以集中收纳待检测的片状高分子成型物；一检测机构，具有一载件，用以接收载置自该集片盒移送的单一片状高分子成型 物，一驱动件，用以驱动该载件，使所载置的待检测片状高分子成型物位移至一检测位置 上，当该待检测片状高分子成型物位于该检测位置上时，以该待检测片状高分子成型物的 一侧为基侧并予以定位，一感应装置，用以感测该待检测片状高分子成型物相背于该基侧 的另侧端缘所在位置，据以检测该待检测片状高分子成型物的尺寸，当检测值超过片状高 分子成型物尺寸的容许误差时，即属次品；一后处理机构，用以对属次品的片状高分子成型物以物理性手段改变其尺寸值， 具有一辊压装置，用以对尺寸过小的次品以辊轮施以滚压，以延展片状高分子成型物的周 侧从而增加其尺寸至容许误差范围内，一热烘装置，使尺寸过大的次品在高温环境下停留 一定的时间，使片状高分子成型物收缩而减少其尺寸至容许误差范围内。 所述热烘装置包括 一隧道，并于该隧道中形成预定温度的高温环境； 一输送部，亘设于该隧道中，并以定速缓慢运动； 若干个舌片，分别以一片端直立设于该输送部上，用以将尺寸过大的片状高分子成型物次品夹置于两相邻舌片间。 所述热烘装置更包括 若干个遂道，并于各该隧道中形成不同温度的高温环境； 若干个输送部，分别亘设于对应的隧道中，用以载运尺寸过大的片状高分子成型物次品于对应的隧道中受温度的作用。 所述辊压装置更包括 两辊轮组，分别具有一对彼此平行的辊轮，并使一辊轮组的二辊轮彼此轮面间的间距相异于另一辊轮组的二辊轮彼此轮面间的间距。 本专利技术的有益效果为能快速高效的对片状高分子成型物的尺寸进行自动化检测，并根据该尺寸进行自动化处理。 下面通过附图对本技术作进一步说明。附图说明 图l是本专利技术一较佳实施例的流程图。 图2是本专利技术一用以实施上述方法的检测与后处理机的俯视图。 图3是本专利技术一用以实施上述方法的检测与后处理机的侧视图。 图4是本专利技术一用以实施上述方法的检测与后处理机的右视立体图。 图5是本专利技术一用以实施上述方法的检测与后处理机的左视立体图。 图6是本专利技术一用以实施上述方法的检测与后处理机的检测机构立体图。 图7是本专利技术一用以实施上述方法的检测与后处理机的检测机构作动作示意图。 图8是本专利技术一用以实施上述方法的检测与后处理机的辊压装置侧视图。 图9是本专利技术另一用以实施上述方法的检测与后处理机的热烘装置立体外观图。 [主要标号说明] lo检测及后处理机20集料机构 2l集片盒22转盘 30检测机构3l载件 311推面32驱动件 33挡体34感应装置 40后处理机构4l辊压装置 411、412辊轮组dl、d2间距 42、42’热烘装置42l舌片 422、422’输送部423、423’隧道 50片状高分子成型物具体实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于，它包括下述步骤：ａ．使经过后稳型程序的待检测片状高分子成型物位于一水平面上；ｂ．将该待检测的片状高分子成型物于该水平面上被水平地位移至一检测位置上；ｃ．以该待检测的片状高分子成型物的一侧为基侧，并将该基侧定位于一基准点上；ｄ．以该待检测片状高分子成型物相背于该基侧的另一侧为受测侧，并以一感应装置感测该待检测高分子成型物受测侧所在位置，以检测该待检测片状高分子成型物介于该基测与该受测侧间的距离，以获得其对应的尺寸数值；ｅ．当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值内时即判定为良品；而当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值范围以外时即判定为次品；ｆ．当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，延展该次品，以增加其基侧至受测侧间的距离；而当所述次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大值时，使该次品位于一预定温度的环境下，使该次品收缩以缩小而减少其基侧至受测侧间的距离。

【技术特征摘要】
1.一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于，它包括下述步骤a.使经过后稳型程序的待检测片状高分子成型物位于一水平面上；b.将该待检测的片状高分子成型物于该水平面上被水平地位移至一检测位置上；c.以该待检测的片状高分子成型物的一侧为基侧，并将该基侧定位于一基准点上；d.以该待检测片状高分子成型物相背于该基侧的另一侧为受测侧，并以一感应装置感 测该待检测高分子成型物受测侧所在位置，以检测该待检测片状高分子成型物介于该基测 与该受测侧间的距离，以获得其对应的尺寸数值；e.当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值内时即判定为良品；而当 所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值范围以外时即判定为次品；f.当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，延展该次 品，以增加其基侧至受测侧间的距离；而当所述次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大值时，使该次品位 于一预定温度的环境下，使该次品收缩以缩小而减少其基侧至受测侧间的距离。2.如权利要求1所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于， 在该步骤d中，使该感应装置以位移方式感测该受测侧的位置；该感应装置于位移乃是位 于一原点位置上，该原点位置并与该基准点相隔固定距离，而以该感应装置自该原点至该 受测侧的位移距离与该固定距离之差或和，为该基侧至该受测侧间的距离，据以获得该待 检测片状高分子成型物的尺寸。3.如权利要求2所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于， 该固定距离大于待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离，而于该d步骤中，即 以该位移距离与该固定距离的差值作为该待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的 距离。4.如权利要求2所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于， 该固定距离小于待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离，而于该d步骤中，即 以该位移距离与该固定距离之和值为该待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离 。5.如权利要求1所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于， 该f步骤中，当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，以辊 轮滚压该次品，从而通过延展而增加其基侧至受测侧间的距离。6.如权利要求1所述的片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其特征在于， 该f步骤中，当所述次品的尺...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈法胜，
申请(专利权)人：陈法胜，
类型：发明
国别省市：71