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本实用新型涉及一种动态偏振光散射颗粒测量装置，激光器发射出的激光依次进入起偏器、二分之一波片、透镜组成的入射光路，由透镜聚焦输出的光照射在样品池内的颗粒样品上，被激光束照射的样品颗粒产生的垂直于入射激光方向的散射光依次进入孔径光阑、检偏器、...
该专利属于上海理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海理工大学授权不得商用。

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