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本发明提供一种使用芯片的检查装置，抑制了对检测样品所用的测光部等光学部件的异物附着。该使用芯片的检查装置，具备：转子（５），保持芯片（４）；测量室（７），收存转子（５），并设置贯穿孔（７１）；光源（８４），穿过贯穿孔（７１），对芯片（４）照...
该专利属于优志旺电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过优志旺电机株式会社授权不得商用。

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