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一种静电放电测试方法，包括：提供待测半导体器件；将所述待测半导体器件上的所有输入输出接触点分为待测组和其他组；将所述待测半导体器件配置于提供的测试板的引脚框上，其中，将所述待测组的输入输出接触点和所述待测半导体器件上的电源接触点、接地接触点...
该专利属于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（上海）有限公司授权不得商用。

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