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本发明属电光功能材料制备领域，涉及一种液晶盒厚测量方法及装置。本发明方法不需要通过透射光谱的极大和极小所对应的波长值来确定液晶盒厚度，从而免去了寻找透射光谱极大和极小值的不确定性。本发明采用了汇聚光束，有利于提高信噪比。光锥在液晶盒上的截面...
该专利属于复旦大学所有，仅供学习研究参考，未经过复旦大学授权不得商用。

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