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本发明提供了一种芯片的测试方法和系统，该方法包括步骤：对晶圆分割出的ｎ个芯片进行测试，得到ｎ组测试数据，每组包括ｆ种测试数据；将ｎ组测试数据分为ｍ个压缩组，每个压缩组中包括完整的组的测试数据；对每个压缩组中的每一种测试数据分别按照一定的函数...
该专利属于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（上海）有限公司授权不得商用。

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