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本发明提供了一种清除金属氧化物的方法,所述金属氧化物形成于金属层和层间绝缘层上,包括以下步骤:通入第一气体,清除所述金属层和层间绝缘层上的金属氧化物,所述第一气体具有还原性。本发明还提供了一种制备互连层的方法。本发明能有效清除层间绝缘层和阻...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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本发明提供了一种清除金属氧化物的方法,所述金属氧化物形成于金属层和层间绝缘层上,包括以下步骤:通入第一气体,清除所述金属层和层间绝缘层上的金属氧化物,所述第一气体具有还原性。本发明还提供了一种制备互连层的方法。本发明能有效清除层间绝缘层和阻...