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本发明公开了一种使用ＡＬＰＧ测试仪进行ＤｕａｌＰｏｒｔ　ＳＲＡＭ测试的装置，所述ＤＰ　ＳＲＡＭ器件有两组独立的地址系统对应同一个存储空间，测试时，除最高地址位以外，所述两组独立的地址系统中其它对应的每个地址位都相互连接，两个最高地址位相互不...
该专利属于上海华虹ＮＥＣ电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹ＮＥＣ电子有限公司授权不得商用。

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