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本发明公开了一种利用半导体测试仪读取芯片信息的方法，序列图形发生器产生图形值并写入图形真值表中，数据比较器根据图形值输出Ｘ结果到数据失效存储器，输出Ｙ结果到数据失效存储器；通过测试程序设置数据选择器，设定数字采集器各比特位与芯片测试通道的链...
该专利属于上海华虹ＮＥＣ电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹ＮＥＣ电子有限公司授权不得商用。

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