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本发明公开了一种在晶圆上对时钟异步芯片进行多个芯片并行测试的方法；包括以下步骤：步骤一，通过过程控制，由自动测试设备的算法图形产生器或顺序向量生成器产生同步的信号，加载在所有的被测芯片上；步骤二，在抓取使能的控制下，通过矩阵的功能，把输出端...
该专利属于上海华虹ＮＥＣ电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹ＮＥＣ电子有限公司授权不得商用。

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